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德昌薄膜GB1409介电常数测试仪报价

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德昌薄膜GB1409介电常数测试仪报价

发布用户:Bgjy 时间:2021-10-24 00:52

德昌薄膜GB1409介电常数测试仪报价

Q测量工作误差: <5%

复合键频率/电容按键,次按下(频率指示数在闪烁)为频率数输入,单位为MHz。例:要输入79.5MHz,按一次此键,频率指示数在闪烁,然后输入79.5,再按一下此键即可。第二次按下(电容指示数在闪烁)为电容数输入,数输入要满4位。例:要输入79.5P,按二次此键,电容指示数在闪烁,然后输入0795,要输入180.5P,输入1805,有效数后为0的,可以不输入0直接再按一下此键结束输入。

电感测量范围: 15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH

GB/T 21216 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法

德昌薄膜GB1409介电常数测试仪报价

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

1.Q值测量范围:2~1023

2.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

3.电感测量范围:自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。

4.电容直接测量范围:1~460pF                                                

5.主电容调节范围:30~500pF                                            

6.电容准确度150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%                                                                   7.信号源频率覆盖范围100KHz-70MHz(双频对向搜索  确保频率不被外界干扰)另有GDAT-C频率范围200KHZ-100MHz

8、型号频率指示误差:1*10-6 ±1                                      

Q值合格指示预置功能范围:5~1000

Q值自动锁定,无需人工搜索

9.Q表正常工作条件

a.环境温度:0℃~+40℃

b.相对湿度:<80%;

c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

10.其他

a.消耗功率:约25W;   

b.净重:约7kg; 

德昌薄膜GB1409介电常数测试仪报价

电极与试样的接触情况,对tanδ的测试结果有很大影响,因此烧渗银层电极要求接触良好、均匀,而厚度合适。

液晶显示屏。

将被测样品接在“CX”接线柱上。

试样要求:固体样品厚度要求:0.5-15MM

信号源频率精度: 3×10-5 ±1个字,6位有效数

在结构紧密的陶瓷中,介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能,往往在配方中引人此易熔物质(如黏土),形成玻璃相,这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大,介质损耗也增大。因面一般高频瓷,如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大,主要的原因是:主晶相结构松散,生成了缺固济体、多品型转变等。

德昌薄膜GB1409介电常数测试仪报价

介电常数测试仪主要技术特性:

液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

试样吸湿后,测得的tanδ值增大,影响测量精度,应严格避免试样吸潮。

介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。

用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d(分别在不同位置测得两个数据,再取其平均值)。

保证二个测微杆0.01mm分辨率。

实验步骤:本仪器适用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流电,使用前要检查市电电压是否合适,好采用稳压电源,以保证测试条件的稳定。

陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外,表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。

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信号源频率覆盖比: 6000:1

测试回路接线柱:左边两个为电感接入端,右边两个为外接电容接入端;后边两个为电感接入端,前边两个为外接电容接入端。

夹具插头间距:25mm±1mm

电感测试范围所对应频率范围表。

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zei低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

调谐电容带动传感器,不断地将电容变化的信息送往中心控制CPU,经处理后计算出电容值,再根据频率值计算出谐振时的频率值。 调谐电容有步进马达带动,根据不同电容值由CPU计算脉冲数去控制马达。电容值可预置并可电容搜索。Q表工作频率值,频段,主调电容器值,谐振电感值,Q值,Q值比较设置状态,Q值量程,手/自动状态,频率或电容搜索指示,

空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

Q值合格范围比较值设定/7按键,按此键后,显示屏第三行右部出现COMP字符,当Q合格时,显示OK,並同时鸣响蜂鸣器,Q不合格时,显示NO。设置Q值合格范围详细说明见后页。先按12键后,再按此键,功能为数字键7。

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夹角损耗角正切值:≤4×10-4(1MHz时

平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。

谐振点搜索: 自动扫描

图 Q表前面板和外形示意图

开机预热15分钟,使仪器恢复正常状态后才能开始测试。

Q值高一档量程选择(手动方式时有效)/4按键;先按12键后,再按此键,功能为数字键4。

调谐电容: 主电容30-500PF

介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。

德昌薄膜GB1409介电常数测试仪报价

谐振点搜索: 自动扫描

数字键0,先按12键后有效。

工作原理:“Q”的定义Q表是根据串联谐振原理设计,以谐振电压的比值来定位Q值。

谐振点频率搜索/5按键,按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时,表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点,如需退出搜索,再按此键;先按12键后,再按此键,功能为数字键5。

用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d(分别在不同位置测得两个数据,再取其平均值)。

频率调谐数码开关。

电感测量误差: <5%

介电常数介质损耗仪采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

德昌薄膜GB1409介电常数测试仪报价

选择适当的线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率,调节测试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1,品质因素为Q1。

数字键6,先按12键后有效;谐振点电容搜索/6按键,按此键后,电容指示不断在变化,步进马达发出轻微的声响时仪器正工作在电容自动搜索被测量器件的谐振点,如需退出搜索,再按此键;先按12键后,再按此键,功能为数字键6。

空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

GB/T 21216 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法

Q量程切换: 自动/手动

Q值高一档量程选择(手动方式时有效)/4按键;先按12键后,再按此键,功能为数字键4。

Q测量工作误差: <5%

陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外,表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。

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